SUNX压力传感器，SUNX传感器，SUNX光电开关，SUNX光幕/39529839/39529830：单荣兵
作为性企业SUNX将以传感器技术为核心，以的技术及与广大客户共同实现美好未来。
神视SUNX产品主要应用包括：FOUP落位确认，晶片检测（回归反射型），FOUP内部地址检测，腐蚀环境下的晶片检测，晶片落位确认，高温处理器内部IC检测，IC引脚数量检测，晶片匣内的晶片检测，IC托盘高度检测，零件取出确认，盒内消针检测，硅液滴落检测，电路板搁架检测，零件进料器供应过剩检测，螺线管动作确认，不锈钢板浮起检测，电子零件引脚的远距离检测，转位工作台上的火花塞装夹确认，螺丝缺失检测，机械手夹持动作确认，组装托盘挡板检测，钢丝绳断裂检测，密封圈检测，旋转体检测，油封确认，DVD盒套内说明书检测，磁盘粘结热熔胶检测，单元时的零件取出确认，托盘内电容检测，标签检测，传送带传送检测时的配线节省，无人驾驶搬运车行驶障碍物检测，利用堆垛起重机经行的工作检测，明信片检测，传送带行李通过确认，半圆形双金属金属，粘合金属板的正反判别，管道内金属管检测，涂装工序中（爆炸环境下）的物件检测，大型发动机零件误拆卸防止，立体停车场汽车位置检测，薄膜边缘检测，标签料盘中哦南方的标签余量检测，纸张重叠检测，热熔胶检测，不同颜色的饼干检测，化学物质填充设备中的容器检测，弧度检测，糖果包装薄膜检测，医疗用托盘弹出确认，木材检测，玻璃电路板的标准及久违确认和绘图，检测真空槽内的FPD

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接近传感器，是代替限位开关等接触式检测方式，以无需接触检测对象进行检测为目的的传感器的总称。能检测对象的移动信息和存在信息转换为电气信号。在换为电气信号的检测方式中，包括利用电磁感应引起的检测对象的金属体中产生的涡电流的方式、捕测体的接近引起的电气信号的容量变化的方式、利石和引导开关的方式。 在JIS规格中，根据IEC60947-5-2的非接触式位置检测用开关，制定了JIS规格（JIS C 8201-5-2低压开关装置及控制装置、5控制电路机器及开关元件、2节接近开关）。在JIS的定义中，在传感器中也能以非接触方式检测到物体的接近和附近检测对象有无的产品总称为“接近开关”，由感应型、静电容量型、超声波型、光电型、磁力型等构成。在本技术指南中，将检测金属存在的感应型接近传感器、检测金属及非金属物体存在的静电容量型接近传感器、利用磁力产生的直流磁场的开关定义为“接近传感器”。
① 由于能以非接触方式进行检测，所以不会磨损和损伤检测对象物。 　　② 由于采用无接点输出方式，因此寿命延长（磁力式除外）采用半导体输出，对接点的寿命无影响。 　　③ 与光检测方式不同，适合在水和油等环境下使用检测时几乎不受检测对象的污渍和油、水等的影响。此外，还包括特氟龙外壳型及耐药品良好的产品 　　④ 与接触式开关相比，可实现高速响应 　　⑤ 能对应广泛的温度范围 　　⑥ 不受检测物体颜色的影响对检测对象的物理性质变化进行检测，所以几乎不受表面颜色等的影响 　　⑦ 与接触式不同，会受周围温度的影响、周围物体、同类传感器的影响包括感应型、静电容量型在内，传感器之间相互影响。因此，对于传感器的设置，需要考虑相互干扰。此外，在感应型中，需要考虑周围金属的影响，而在静电容量型中则需考虑周围物体的影响。

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